ST2500EX高性能數(shù)模混合信號(hào)測(cè)試機(jī)

ST2500EX是高性能數(shù)模混合信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)，支持1024數(shù)字通道配置。該系統(tǒng)硬件結(jié)構(gòu)采用Direct Docking連接方式，可以兼容J Type針卡，降低客戶轉(zhuǎn)平臺(tái)治具成本。ST2500EX還具有靈活的可擴(kuò)展性，可搭載無(wú)線綜測(cè)儀、RF測(cè)試模塊及各類高性價(jià)比解決方案。

應(yīng)用場(chǎng)景

ST2500EX高性能數(shù)模混合信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)可以廣泛應(yīng)用于SoC/MCU、FLASH、EEPROM、CIS、 AIoT、LED Driver、FPGA、Sensor等半導(dǎo)體晶圓、器件測(cè)試和模塊系統(tǒng)級(jí)測(cè)試。

目標(biāo)器件

• SOC/MCU

• FLASH

• EEPORM

• CIS

• Bluetooth/WiFi

• LED Driver

• FPGA

• Sensor

ST2500EX高性能數(shù)模混合信號(hào)測(cè)試機(jī)產(chǎn)品關(guān)鍵特性

• 系統(tǒng)支持250Mbps/500Mbps（差分、500mV）數(shù)據(jù)速率

• 單機(jī)頭最高可配置32塊板卡，用戶可以根據(jù)測(cè)試需求靈活配置板卡

• 可以兼容J Type針卡，降低客戶轉(zhuǎn)平臺(tái)治具成本

• 提供配套公用loadboard，可以縮短客戶產(chǎn)品硬件開(kāi)發(fā)周期

• 系統(tǒng)采用Direct Docking連接方式，增加晶圓測(cè)試穩(wěn)定性

• 系統(tǒng)集成ST-IDE軟件提供用戶友好的開(kāi)發(fā)環(huán)境，豐富的開(kāi)發(fā)和調(diào)試工具 (AWG、DGT、Pattern、LA等)，降低產(chǎn)品開(kāi)發(fā)調(diào)試到量產(chǎn)交付生產(chǎn)周期

• 配套豐富的pattern轉(zhuǎn)換工具，方便WGL、STIL、VCD等仿真文件轉(zhuǎn)換為測(cè)試機(jī)pattern，同時(shí)支持友商平臺(tái)pattern轉(zhuǎn)換，有效提高調(diào)試效率

• 針對(duì)工廠量產(chǎn)提供專門(mén)GUI，數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)顯示監(jiān)控，提供豐富的數(shù)據(jù)記錄分析工具，支持定制化工廠系統(tǒng)連接方案，方便批量測(cè)試和對(duì)接工廠管理系統(tǒng)

• 智能軟硬件監(jiān)控系統(tǒng)，提供故障代碼，精確定位軟硬件故障位置